Архив электронных ресурсов
[Зарегистрироваться]
 

eKhNUIR >
Фізичний факультет >
Навчальні видання. Фізичний факультет >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/7454

Название: Практикум з фізики низьких температур
Другие названия: Навчальний посібник
Авторы: Білецький, В.І.
Завгородній, А.А.
Козинець, В.В.
Лебедєв, В.П.
Ключевые слова: термометр опору
термоелектричні термометри
кріостат
кріогенні рідини
термометрія
надпровідність
критичне магнітне поле
критична температура
надпровідники І роду
надпровідники ІІ року
надплинність
Дата публикации: 2006
Издатель: Харківський національний університет
Реферат: Навчально-методичні матеріали і завдання до виконання циклу лабораторних робіт із спеціальних практикумів «Методика низькотемпературного експерименту» і «Властивості твердих тіл при низьких температурах» призначені для студентів ІІІ і ІV курсів фізичного факультету. Наведені короткі відомості про фізичні основи явищ, що запропоновані для спостережень як лабораторні роботи і подано докладний опис особливостей методик, які застосовують саме при низьких температурах.
Описание: Рецензенти: Янсон Ігор Кіндратович, завідувач відділу ФТІНТ імені Б. І. Веркіна НАН України, , академік НАН України.доктор фіз. мат. наук, професор; Свистунов Володимир Михайлович, завідувач кафедри технічної кріогеники Харківського національного технічного університету (ХПІ), доктор фіз..-мат. наук, професор. Андерс Олександр Георгієвич, завідувач кафедри загальної фізики Харківського національного університету імені В. Н. Каразіна, докт. фіз. мат. наук, професор.
URI: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/7454
Располагается в коллекциях:Навчальні видання. Фізичний факультет

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
ПРАКТИКУМ НТ.pdf4,04 MBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! Яндекс цитирования DSpace Software Copyright   ©   2002-2008   MIT   and   Hewlett-Packard - Обратная связь