Архив электронных ресурсов
[Зарегистрироваться]
 

eKhNUIR >
Хімічний факультет >
Наукові видання. Хімічний факультет >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/669


Название: Метрологические характеристики методик обнаружения с бинарным откликом
Авторы: Холин, Ю.В.
Никитина, Н.А.
Пантелеймонов, А.В.
Решетняк, Е.А.
Бугаевский, А.А.
Логинова, Л.П.
Ключевые слова: качественный химический анализ
химическая метрология
Дата публикации: 2008
Издатель: Х.: Тимченко
Библиографическое описание: Холин Ю. В., Никитина Н. А., Пантелеймонов А. В., Решетняк Е. А., Бугаевский А. А., Логинова Л. П. Метрологические характеристики методик обнаружения с бинарным откликом. — Х.: Тимченко, 2008. — 128 с.: илл. 18, табл. 45. — Библиогр.: 223 наименования.
Реферат: В монографии обсуждены метрологические и вычислительные аспекты методик бинарного тестирования. Бинарное тестирование  частный случай качественного химического анализа. При бинарном тестировании к заключению о присутствии или отсутствии аналита в пробе делают непосредственно по результатам применения методики с бинарным откликом (обычно с органолептической индикацией аналитического сигнала). В книге охарактеризованы области применения методик с бинарным откликом, изложены соображения по унификации и сокращению перечня характеристик, необходимых для их метрологической оценки, и сопоставлены вычислительные процедуры, используемые в данной области. Монография предназначена для специалистов в области аналитической и экоаналитической химии, может быть использована преподавателями и студентами вузов.
URI: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/669
ISBN: 978-966-8661-35-8
Располагается в коллекциях:Наукові видання. Хімічний факультет

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
book.pdfтекст монографии1,12 MBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
cover.jpgобложка24,71 kBJPEGЭскиз
Просмотреть/Открыть
Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! Яндекс цитирования DSpace Software Copyright   ©   2002-2008   MIT   and   Hewlett-Packard - Обратная связь