Архив электронных ресурсов
[Зарегистрироваться]
 

eKhNUIR >
Фізико-технічний факультет >
Наукові роботи. Фізико-технічний факультет >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/4912

Название: Низкофоновый спектрометр поверхностной альфа-активности больших образцов
Авторы: Гаврилюк, Ю.М.
Гангапшев, А.М.
Казалов, В.В.
Кузьминов, В.В.
Панасенко, С.М.
Раткевич, С.С.
Федорец, И.Д.
Ключевые слова: alpha-particle
track
structure
pulse ionization chamber
form of a pulse
modeling
superficial alpha-activity
альфа-частица
трек
структура
импульсная ионная ионизационная камера
форма импульса
моделирование
поверхностная альфа-активность
Дата публикации: 2007
Издатель: Харкiвський нацiональний унiверситет iм. В.Н. Каразiна
Библиографическое описание: Низкофоновый спектрометр поверхностной альфа-активности больших образцов / Ю.М. Гаврилюк, А.М. Гангапшев, В.В. Казалов, В.В. Кузьминов, С.М. Панасенко, С.С. Раткевич, И.Д. Федорец // Вiсник Харкiвського нацiонального унiверситету iм. В.Н. Каразiна. – 2007. – № 784. Сер.: Фізична. «Ядра, частинки, поля». – Вип. 4(36). – С. 93-100
Реферат: Описана конструкция импульсной ионной ионизационной камеры для измерения поверхностной альфа-активности различных образцов. Созданный на основе ионизационной камеры низкофоновый спектрометр вместе с соответствующими методами регистрации и обработки сигналов позволяет достичь высокой чувствительности прямых измерений сверхмалых уровней поверхностной альфа-активности. Он дает возможность решить проблему контроля сверхчистых материалов, с нарушенным равновесием в цепи распадов уранового и ториевого рядов, используемых при создании детекторов для исследования редких ядерных процессов. Описана процедура моделирования формы импульсов тока в зависимости от ориентации и местоположения треков альфа-частиц в камере. Приведены результаты измерений с альфа-источником, а также с образцами меди, нержавеющей стали и светоотражающей плёнки VM2000. The construction of an ion pulse ionization chamber aimed at measuring levels of surface alpha-activity of different samples is described. Created on a basis the ionization chamber the low-background spectrometer together with corresponding methods of registration and processing of signals allows to achieve high sensitivity of direct measurements of midget levels of superficial alpha-activity. Allows to solve a problem of the control of superpure materials, with the broken balance in a circuit of disintegrations of the uranium and thorium decay chains used at creation of detectors for research of rare nuclear processes. The results of modeling of pulses of a current are with depending on orientation and site of tracks of alpha-particles in the chamber are given. The results of measurement carried out with alpha-source, and also with copper samples, stainless steel and light-reflecting film VM2000 are presented.
URI: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/4912
Располагается в коллекциях:Наукові роботи. Фізико-технічний факультет

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
784_4(36)_07_p93-100.pdf785,76 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! Яндекс цитирования DSpace Software Copyright   ©   2002-2008   MIT   and   Hewlett-Packard - Обратная связь