Архив электронных ресурсов
[Зарегистрироваться]
 

eKhNUIR >
Хімічний факультет >
Наукові роботи. Хімічний факультет >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/3892

Название: Ионизация длинноцепочечных жирных кислот в мицеллах ПАВ
Авторы: Ельцов, С.В.
Барсова, З.В.
Ключевые слова: ундекановая кислота
пальмитиновая кислота
миристиновая кислота
кажущаяся константа диссоциации
ионная сила
мицеллярный раствор ПАВ
Дата публикации: 2008
Издатель: Харківський національний університет імені В.Н. Каразіна
Библиографическое описание: Ельцов С.В. Ионизация длинноцепочечных жирных кислот в мицеллах ПАВ / С.В. Ельцов, З.В. Барсова // Вiсник Харкiвського нацiонального унiверситету iм. В.Н. Каразiна. – 2008. – № 820. Сер. : Хімія. – Вип. 16(39). – С. 292 – 298.
Реферат: При помощи потенциометрического титрования определены показатели кажущихся констант диссоциации ( р а Kа ) ундекановой, миристиновой и пальмитиновой кислот в мицеллах катионных, анионных, неионных и цвиттерионных ПАВ при температуре 298 К и различной ионной силе. На основе значений р а Kа рассчитаны изменения констант диссоциации при переходе от воды к мицеллярным растворам ( р а Δ Kа ), а также электростатический потенциал слоя Штерна мицелл ПАВ (Ψ). Показано, что рост ионной силы приводит к сближению р а Kа в мицеллярных растворах ПАВ разного типа. Значения р а Δ Kа и Ψ, полученные нами при использовании жирных кислот в качестве зондов для исследования мицелл, согласуются с данными, приведенными в литературе, где в качестве зондов использовались индикаторы.
URI: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/3892
Располагается в коллекциях:Наукові роботи. Хімічний факультет

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
06_Eltsov.pdf310,82 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! Яндекс цитирования DSpace Software Copyright   ©   2002-2008   MIT   and   Hewlett-Packard - Обратная связь