Архив электронных ресурсов
[Зарегистрироваться]
 

eKhNUIR >
Медичний факультет >
Наукові роботи. Медичний факультет >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/3726

Название: Значение продолжительности комплекса QRS ЭКГ в клиническом течении и исходах сердечно-сосудистых заболеваний
Другие названия: IMPORTANCE OF QRS COMPLEX DURATION IN THE CLINICAL COURSE AND OUTCOMES OF CARDIOVASCULAR DISEASES
Авторы: Бурда, И.Ю.
Лысенко, Н.В.
Яблучанский, Н.И.
Ключевые слова: продолжительность комплекса QRS ЭКГ
укорочение комплекса QRS ЭКГ
удлинение комплекса QRS ЭКГ
сердечно-сосудистые заболевания
Дата публикации: 2009
Издатель: ХНУ імені В. Н. Каразіна
Библиографическое описание: Вісник Харківського національного університету імені В. Н. Каразіна, серія “Медицина”. – 2009. – № 855, Вип. 17. – С. 73–81.
Реферат: Комплекс QRS ЭКГ имеет ключевое значение для работы сердца. Изменение его продолжительности в сторону укорочения или удлинения приводит к серьезным нарушениям электрофизиологии и биомеханики сердца. Представлен обзор литературы, посвященной изменению продолжительности комплекса QRS ЭКГ при различных сердечно-сосудистых заболеваниях. Уделено внимание электрофизиологии, биохимии и биомеханической реализации комплекса QRS ЭКГ и факторам, влияющим на его продолжительность. Рассмотрены причины и механизмы изменения продолжительности комплекса QRS ЭКГ при патологических состояниях. Подчеркнуто влияние продолжительности комплекса QRS ЭКГ не только на клинический статус, но и прогноз пациентов с сердечно-сосудистыми заболеваниями.
URI: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/3726
Располагается в коллекциях:Наукові роботи. Медичний факультет

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Burda_V17(855)_2009.pdf460,23 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! Яндекс цитирования DSpace Software Copyright   ©   2002-2008   MIT   and   Hewlett-Packard - Обратная связь