Архив электронных ресурсов
[Зарегистрироваться]
 

eKhNUIR >
Факультет психології >
Наукові роботи. Факультет психології >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/2564

Название: Психометрическая оценка методики диагностики зависимости Б. Уайнхолда
Авторы: Кочарян, А.С.
Смахтина, Н.А.
Фролова, Е.В.
Ключевые слова: межличностная зависимость
диагностика
психометрический паспорт
пороговый диагностический коэффициент
опросник Уайнхолда
Дата публикации: 2006
Издатель: ХНУ
Библиографическое описание: Кочарян А.С., Смахтина Н.А., Фролова Е.В. Психометрическая оценка методики диагностики зависимости Б. Уайнхолда // Вісник Харківського національного університету. Серія психологія. – 2006. - № 718.- С. 47-51.
Реферат: Статья посвящена проблеме диагностики межличностной зависимости. Целью работы была адаптация методики диагностики межличностной зависимости Б.Уайнхолда к украинской выборке и созданию психометрического паспорта методики. С помощью ряда методов математической статистики было осуществлено определения валидности и надежности опросника Уайнхолда; выявление дифференциальной силы утверждений; проведена процедура нормализации опросника Уайнхолда. Обсуждается проблема проведения границы между зависимостью и независимостью. Установлен «пороговый диагностический коэффициент» зависимости – количество баллов, при которой можно диагностировать наличие зависимости, так-же приводится распределение баллов, которое характеризует разные уровни зависимости в украинской популяции.
URI: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/2564
Располагается в коллекциях:Наукові роботи. Факультет психології

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Кочарян, Смахтина, Фролова Психометрическая оценка методики диагностики зависимости Б. Уайнхолда.doc153 kBMicrosoft WordПросмотреть/Открыть
Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! Яндекс цитирования DSpace Software Copyright   ©   2002-2008   MIT   and   Hewlett-Packard - Обратная связь