Архив электронных ресурсов
[Зарегистрироваться]
 

eKhNUIR >
Фізико-технічний факультет >
Наукові роботи. Фізико-технічний факультет >

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/1705

Название: A technique for evaluating the RF voltage across the electrodes of a capacitively-coupled plasma reactor
Авторы: Lisovskiy, Valeriy
Booth, Jean-Paul
Landry, Karine
Douai, David
Cassagne, Valerick
Yegorenkov, Vladimir
Ключевые слова: plasma physics
gas discharges
Дата публикации: Окт-2006
Издатель: http://www.edpsciences.org/epjap
Библиографическое описание: Eur. Phys. J. Appl. Phys. 36, 177–182 (2006)
Серия/Номер: ;DOI: 10.1051/epjap:2006116
Реферат: We propose a new technique for evaluating the RF voltage across the electrodes of low-pressure capacitively-coupled plasma reactors when direct measurements are not possible. It is based on determining the coordinates of the turning point in the RF breakdown curve and using known values of the electron drift velocity for the gas. The results are in good agreement with those obtained by direct measurements at the driven electrode. Furthermore it allows RF breakdown curves to be determined for different frequencies, giving results that are physically reasonable (coincidence of right-hand branches) and in agreement with other published results. The technique for determining RF voltage we proposed is valid when there is no discharge plasma between electrodes (e.g., before gas breakdown), as well as for negligibly small discharge currents (before extinction of the weak-current discharge mode).
URI: http://dspace.univer.kharkov.ua/handle/123456789/1705
Располагается в коллекциях:Наукові роботи. Фізико-технічний факультет

Файлы этого ресурса:

Файл Описание РазмерФормат
Eur_Phys_ J_ AP_2006.pdf1,05 MBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть
Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве защищены авторским правом, все права сохранены.

 

Valid XHTML 1.0! Яндекс цитирования DSpace Software Copyright   ©   2002-2008   MIT   and   Hewlett-Packard - Обратная связь